ГОСТ Р 71334-2024
ГОСТ Р 71334-2024 Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции
Категории ГОСТ Р 71334-2024 по ОКС:- Статус документа:
- действует, введён в действие 01.03.2025
- Название на английском языке:
- Epitaxial structures. Мethod for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference
- Дата актуализации информации по стандарту:
- 25.08.2025, в 09:45 (менее полугода назад)
- Вид стандарта:
- временно не известен
- Дата начала действия ГОСТа:
- 2025-03-01
- Число страниц:
- 8
- Назначение ГОСТ Р 71334-2024:
- не указано
Нормативные ссылки, связанные с ГОСТ Р 71334-2024:
- Стандарт ссылается на ГОСТы:
- ГОСТ 6709-72
Скачать ГОСТ Р 71334-2024 вы можете в следующих версиях:
Тип файла:
Дата добавления:
Загрузок:
Размер:
Ссылка на скачивание:
Добавлен:
21/11/2025 13:09
Скачиваний:
2
Размер файла:
1.93 Мб
Ссылка для скачивания:
-
страница 1
-
страница 2
-
страница 3
-
страница 4
-
страница 5
-
страница 6
-
страница 7
-
страница 8
